Temperierung einer In-Strip Testvorrichtung für Integrierte Schaltkreise
Bei der Produktion von IC’s gibt es für deren elektrischen Test sogenannte Testhandler, die die Bauteile unter bestimmten Temperaturbedingungen elektrisch kontaktieren (üblicherweise -60°C bis +160°C). Die Temperatur der Bauteile während dem Test unterliegt dabei engen Grenzen und darf durch die Kontaktierung nicht zu sehr abdriften. In diesem Projekt wurde eine 16-fache Bauteilkontaktierung analysiert unter Ausnutzung der Symmetrie.
Aufgrund der hohen Anzahl von Kontaktfedern ergibt sich eine sehr komplexe Fluid Domäne:
Temperaturergebnisse:
Ergebnis der Temperierluft zur Kompensation der Verluste, die durch die Kontakte entstehen:
